經(jīng)濟型高低溫冷熱沖擊試驗箱應用設計

經(jīng)濟型高低溫冷熱沖擊試驗箱應用設計

產(chǎn)品簡介：

冷熱沖擊和高低溫循環(huán)箱  可靠性測試可程式蓄冷熱沖擊試驗箱特別適用于半導體電子器件做溫度破壞測試，主要測試材料結構在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)沖擊環(huán)境下所能忍受的程度，得以在短時間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。本試驗箱根據(jù)試驗需求及測試標準分為三箱式和兩箱式，區(qū)別在于試驗方式和內(nèi)部結構不同。三箱式分為蓄冷室，蓄熱室和試驗室，產(chǎn)品在測試時是放置在試驗室。兩箱式分為高溫室和低溫室，是通過電機帶動提籃運動來實現(xiàn)高低溫的切換，產(chǎn)品放在提籃里，是隨提籃一起移動的。

產(chǎn)品技術參數(shù)：

• 內(nèi)箱尺寸（W×H×D）cm:	A:35 x 35 x 40 , B:50 x 40 x 40 ,C:60 x 40 x 45 , D:60 x 50 x 50 , E:70 x 60 x 60 ,F:80 x 80 x 80 ,G:100 x 100 x 100
  結構:	預冷箱、預熱箱、 測試箱、固定類型的物體測試,可選擇2箱或3箱
  氣門裝置 :	強制的空氣裝置氣門
  內(nèi)外箱材料 :	SUS #304 不銹鋼
  測試柵盤: :	不銹鋼網(wǎng)架
  冷凍系統(tǒng) :	復疊式制冷
  冷卻方式 :	水冷式
  工作環(huán)境溫度 :	10℃ ~ 35℃
  預熱溫度 :	+ 60℃ ~ + 200℃
  預冷溫度 :	- 10℃ ~ - 70℃
  高溫沖擊溫度 :	+ 60℃ ~ + 150℃
  低溫沖擊溫度 :	-10℃ ~ - 65℃
  溫度分布均勻度 :	±2.00℃ 以內(nèi)
  仿真負載(KG) :	A:2.5,  B:2.5,  C:5,  D:5,  E:5,  F:5,  G:10
  高溫沖擊3箱 :	Rt℃~ +150℃ / 5 MIN
  低溫沖擊3箱 :	RT℃~ -65℃ / 5 MIN
  高溫沖擊2箱 :	-40℃~ +150℃ / 5 MIN
  低溫沖擊2箱 :	+150℃~ --65℃ / 5 MIN
  預熱時間(分鐘) :	A:25min,  B:30min,  C:45min,  D:40min,  E:50min,  F:40min,  G:50min
  預冷時間(分鐘) :	A:60min,  B:75min,  C:80min,  D:85min,  E:85min,  F:90min,  G:100min
  溫度感傳器 :	T *4
  控制器 :	OYO-8226
  設定范圍 :	溫度: -100.00+200.00℃ / TIME : OH00M ~ 99H 59M / CYCLE : 0 CYCLE ~9999 CYCLE
  分辨率 :	0.01℃
  輸出型式 :	PID + SSR 控制模式
  PID + SSR 控制模式 :	（RS-232 )遠程監(jiān)控管理系統(tǒng) / Ln2液態(tài)氮快速降溫控制裝置
  電源 :	AC 3ψ380V , 50Hz

注：產(chǎn)品具體參數(shù)細節(jié)及優(yōu)惠價格可詳談；另可根據(jù)客戶需求進行定制